此系統完全根據IES LM-80標準要求設計，針對市場上的同類產品有幾大典型新優勢。

1、半導體制冷技術完美結合光學測試，不改變測試樣品的位置，從而避免人員操作帶來的誤差及測試樣品拆卸導致點燃狀態不同帶來的測試誤差；

2、具有Ts（表面溫度） Ta（環境溫度） 雙路溫度獨立控制，單一區間內多路模組獨立控制，半導體電制冷恒溫，雙向PID功率調節輸出，有效的解決了大功率LED難以控溫問題，此技術在國際上廣泛使用。

3、測試LED燈珠，獨立的供電系統，互不干擾，，并可獨立控制每路的測試樣品的狀態，針對LED壽命評估的研究和測試提供了準確可靠數據。

4、高度的自動化集成測試，可定時測試，巡檢測試，并可針對光學測試進行多項目整改，添加新的測試功能及測試附件。

溫度控制結構：

1、單一箱體內10組陣列模塊，每組模塊有獨立Ts控制端，共用Ta控制端，單個模組額定功率負載為150W

2、測試模塊采用快接方式安裝，組合形式靈活，更換快速

3、三層獨立箱體結構，可同時滿足三組不同溫度測試

技術參數：

1、箱體

• 設備尺寸：1250mm×1810mm×1000mm (W×H×D)
• 溫度范圍：常溫+5℃～150℃
• 溫度波動度:≤±0.5℃ 溫度均勻度:±1.5℃
• 溫度解析精度:0.01℃
• 溫度控制精度:±0.3℃ 
• 內、外部材質:精美烤漆
• 內箱結構：快速安裝式工作模塊
• 工作臺散熱方式：半導體散熱，風冷輔助散熱
• 工作臺升溫方式：電加熱型
• 工作臺降溫方式：半導體散熱，風冷輔助散熱
• 每個溫度箱內30個LED顆粒工位，共90路測試
• 每路被試LED燈環境溫度-外殼溫度-時間變化曲線（溫度特性試驗）；
• 節點測試：每路被試LED燈光度-時間變化曲線（光通量維持特性曲線）；每路被試LED燈功率-時間變化曲線（能耗特性）；
• 自動計算預估壽命
• 最長老化記錄時間：10k

2、光學測試：

    該試驗系統可以對各種結構的LED器件、模塊等產品進行壽命測試，采用不少于3個的溫度加速應力作為恒定加速應力對LED進行加速壽命試驗，對LED光學參數的實時監控和測量，獲得在不同應力條件下的光功率輸出，進行光通量維持試驗。同時可采用光通量衰減和色溫漂移作為失效判據，并根據實驗結果可在軟件中直接建立阿倫尼斯數學模型，推算LED在指定加速應力下的平均壽命（預期壽命）。

    每個溫度箱單獨配備高精度光度檢測系統，每個箱子配置一路恒溫光度計，共3路。用于每一路被測光源的光參數的測量和分析。

    技術指標：

1）光度線性： 0.3%；

2）光度復現性： 0.3% 。

 3、測試軟件

   每個溫度箱內30個LED顆粒工位，共90路測試

   每路被試LED燈環境溫度-外殼溫度-時間變化曲線（溫度特性試驗）；

   節點測試：每路被試LED燈光度-時間變化曲線（光通量維持特性曲線）；每路被試LED燈功率-時間變化曲線；（能耗特性）

   自動計算預估壽命

   最長老化記錄時間：10kh；

可定制
30路
180路